J. S. Y. Sia, T. S. Tan, A. B. Yahya, M. F. T. Tiong, and J. Y. X. Sia, “Mini Kirsch Edge Detection and Its Sharpening Effect”, IJEEI, vol. 9, no. 1, pp. 228–244, Mar. 2021, doi: 10.52549/ijeei.v9i1.2597.